Анализатор D2 CRYSO — дифрактометр для определения ориентации кристалла.
 

Процесс выращивания монокристаллов в промышленных масштабах является основой для производства полупроводниковых пластин, оптических элементов, а также монохроматоров и кристаллов-анализаторов. Существенной частью этого процесса является определение ориентации кристаллической решетки. В процессе производства данный параметр должен непрерывно контролироваться. В  большинстве случаев, рентгеновская дифракция является единственным неразрушающим методом контроля, удовлетворяющим этой задаче.

Новое решение в дифрактометрии D2 CRYSO – настольный анализатор для определения ориентации кристалла с помощью метода энергодисперсионной рентгеновской дифракции (ED-XRD). D2 CRYSO является мощным инструментом для определения ориентации кристаллической решетки средних и крупных монокристаллов. Дифрактометр незаменим для контроля процесса роста кристалла и производстве монокристаллических материалов.

D2 CRYSO оснащен 30 мм2 кремниевым дрейфовым детектором XFlash® и высокоэффективным микрофокусным источником рентгеновского излучения. Эта комбинация позволяет получать высокое энергетическое разрешение и скорость без использования внешних охлаждающих устройств.

• Определение ориентации кристалла при производстве монокристаллических пластин.