Описание:

Empyrean - уникальный по своим возможностям рентгеновский дифрактометр с вертикально расположенным q - q гониометром высокого разрешения. Благодаря модульной конструкции предназначен как для научных исследований, так и для аналитического контроля в промышленности, сочетает возможности классического порошкового и исследовательского дифрактометра.

Аналитические задачи, решаемы на дифрактометре Empyrean:

• Идентификация фаз, в том числе в режиме "на просвет", количественный фазовый анализ, определение аморфной компоненты;
• Определение и уточнение параметров элементарной ячейки;
• Идентификация фаз (по слоям), рефлектометрия (определение толщины и плотности слоев);
• Анализ эпитаксиальных структур;
• Картирование в обратном пространстве;
• Определение напряжений в слоях, анализ текстуры;
• Идентификация фаз в наноструктурах, измерение размеров наночастиц;
• Малоугловое рассеяние;
• Микродифракция;
• Определение размеров кристаллитов и микронапряжений;
• Анализ текстур и напряжений;
• Высоко и низкотемпературные исследования;
• Изучение процессов кристаллизации и фазовых переходов при изменении температуры;
• Получение трехмерной картины исследуемого объекта (компьютерная томография)

Области применения 

• О дин дифрактометр способен выполнять все задачи рентгеновской дифрактометрии:
• Классический фазовый анализ с высочайшей скоростью и точностью детектирования 
• Определение, уточнение параметров элементарной ячейки
• Определение фаз по слоям
• Микродифракция
• Анализ текстуры, построение полюсных фигур
• Определение напряжений и размера кристаллитов
• Анализ тонких и очень тонких пленок, многослойных покрытий
• Анализ эпитаксиальных пленок, высокоупорядоченных структур, анализ кривых качания, построение карт обратного пространства, оценка совершенства структур
• Анализ монористаллов
• Рефлектометрия, определение толщины и плотности слоев
• Анализ наноразмерных порошков и материалов
• Малоугловое рассеяние рентгеновских лучей SAXS (Small angle X-ray scattering), анализ размерного разпределения наночастиц
• Дифракция в плоскости (in-plane дифракция)
• Проведение исследований в экстремальных условиях обработки
• Определение фазовых переходов при изменении параметров кристаллической наноструктуры
• Кластерный анализ
• Томографическое сканирование, построение и отображение 3D-проекций внутренней структуры веществ (дефектоскопия)