Описание:

Дифрактометр SmartLab обладает интеллектуальными специфичными протоколами для всех типов измерений, позволяя повышать квалификацию новичков или неопытных пользователей с минимальным периодом обучения. Для продвинутых пользователей автоматизированные методы SmartLab означают больше продуктивности в измерениях. В стандартной комплектации SmartLab устанавливается запатентованная Rigaku система Сross Beam Optical (CBO) Technology. Применение технологии CBO подразумевает одновременный монтаж и юстировку оптических компонентов для обеих геометрий фокусировки: Брэгг-Брентано и параллельного пучка. Пользователь может легко переключаться между этими двумя геометриями без необходимости снятия, замены или дополнительной юстировки рентгенооптических компонентов дифрактометра.

 

Особенности:

SmartLab позволяет выполнять следующие виды аналитических измерений для обычных материалов: 

• Идентификация фазового состава
• Количественный анализ
• Определение процента кристалличности материала
• Размер кристаллитов/Анализ деформации решетки
• Точное определение параметров решетки
• Анализ по Ритвельду 

 

При исследовании тонкопленочных образцов SmartLab позволит определить:

• Состав
• Ориентация/фактурность пленки
• Бездефектность
• Напряженность/ослабление
• Напряженность/сжатие
• Толщина
• Шероховатость интерфейса
• Плотность
• Однородность поверхности

 

Точные измерения будут выполняться с помощью «Указания для начинающих…», которое обеспечит автоматизированную настройку на образец и моделирование Reciprocal space map.

SmartLab позволяет использовать следующие виды рентгеновской оптики:

Фокусирующее зеркало и геометрия Брэгг-Брентано

В этой комбинации и одномерном высокоскоростном детекторе можно получить высокое разрешение и высокую интенсивность сигнала. Такой вариант подходит для наноразмерных образцов, ориентированных образцов и метастабильных образцов. 

Оптика Йоханссона (Kα1 оптика)

 

На рисунке показана симметрия оптики Йоханссона (Kα1 оптики). Наряду с высокой интенсивностью сигнала и микрофокусом, конфигурация Йоханссона также обеспечивает высокое разрешение. С использованием технологии CBO или CBO-E, можно исследовать тонкопленочные материалы по характеристической Kα1-линии.

СALSA – логарифический анализатор ультра-высокого разрешения

 

Оптика для ультра-высокого разрешения характеристической Kα1 линии в геометрии параллельного пучка является фирменной разработкой Rigaku. Два Ge-кристалла расположены таким образом, чтобы обеспечить выборку только характеристического Kα1 излучения. Сочетание многокристалльного Ge -анализатора и высоко-скоростного одномерного детектора обеспечивает высокое разрешение измерений и предлагает возможности, практически сравнимые с теми, что достигаются с помощью синхротронного излучения. 

СBO-f: оптический модуль для измерений микрообластей

Фокусирующий модуль CBO-f производит отбор рентгеновского излучения прямо от линейного источника и фокусирует до пятна диаметром 0.4mm на облучаемом образце. В результате возможно получить интенсивность сигнала, на порядок превышающую интенсивность, получаемую при помощи обычной рентгеновской оптики. Юстировка CBO-f производится автоматически. Основными достоинствами технологии CBO-f являются высокое отношение сигнал-шум и отсутствие необходимости переключаться между точечным и линейным режимами измерений. Подходит для образцов, имеющих геометрические размеры менее 1 мм.

 

SAXS: рентгеновское рассеяние при малых углах.

Рентгеновское рассеяние при малых углах (SAXS) быстро стало важным инструментом при исследовании структуры наноматериалов. Как правило, данная технология остается в резерве для специалистов, работающих на специализированных приборах, поскольку данные SAXS достаточно трудно регистрировать и интерпретировать. Технология SAXS позволяет производить следующие аналитические процедуры:

• Определение распределения наночастиц по размерам в наполнителе (растворе)
• Определение размера частицы/поры в осажденном или массивном твердом наноматериале
• Анализ формы частицы
• Определение функции корреляций или распределения электронной плотности состояний

 

U-SAXS

Компания Rigaku интенсивно развивает рентгеновские технологии, связанные с высоким разрешением и методами передачи рентгенооптического сигнала для использования в SAXS. С высоким разрешением при угле в 0.03° (q＝0 .02 nm-1), эта конфигурация идеально подходит для анализа фотонных кристаллов с крупным размером частиц и большим значением постоянной решетки. Основное различие между технологиями SAXS и U-SAXS продемонстрировано на нижнем рисунке:

 

Быстрый, точный и легкий в использовании – это SmartLab от Rigaku. Используя технологию Rigaku «Указания для начинающих в промышленном анализе», SmartLab сам посоветует вам оптимальные условия и параметры анализа. Программное обеспечение само будет определять, какие рентгенооптические модули являются наиболее подходящими для вашего анализа, параметры выполнения измерений, предлагая полностью автоматизированную последовательность выполнения действий. Применение такой технологии позволяет пользователю существенно экономить время измерений (см. диаграмму времени измерений).
SmartLab01.jpg

Таким образом, примененные Rigaku технологии автоматической юстировки дифрактометра, CBO, «Указания для начинающих…» позволили создать чрезвычайно гибкое устройство для получения аналитических данных на основе платформы SmartLab. После выбора типа измерения, дифрактометр предложит изменение конфигурации системы (если оно потребуется), а также поможет вам настроить и выполнить измерения – и все это с помощью user-friendly интерфейса. Технология CBO предложит вам простой выбор типа фокусировки и геометрии измерений (Брэгг-Брентано или параллельный пучок) для наиболее широкого диапазона возможных приложений.

 

Технические характеристики:

Источник излучения с трубкой отпаянного типа	Максимальная мощность	3 kВт
	Напряжение - ток	20 - 60 kВ; 2 - 60 мA
	Стабильность	Не более ±0.005% при колебаниях напряжения сети в пределах 10%
	Материал анода	Cu (другие: опция)
	Размер фокуса	0.4 x 12 мм линейный/точечный (другие: опция)
	Защита от излучения	Система блокировок и заслонок обеспечивает полную безопасность при работе персонала
Источник излучения	Максимальная мощность	9 kВт
	Напряжение - ток	20 - 45 kВ; 10 - 200 мA
	Стабильность	Не более ±0.005% при колебаниях напряжения сети в пределах 10%
	Материал анода	Cu (другие: опция)
	Размер фокуса	0.4 x 8 мм линейный/точечный
	Защита от излучения	Система блокировок и заслонок обеспечивает полную безопасность при работе персонала
Гониометр	Режим сканирования	связанный θs/θd или независимый θs, θd контролируется оптическим датчиком
	Радиус гониометра	300 мм
	Минимальный шаг	0.0001°
	Гониометрическая головка	χ: -5 до 95°/0.001° шаг
		φ: -720 до 720°/0.002° шаг
		Ζ: -4 до 1 мм/0.0005 мм шаг
		X, Y подвижный столик (опция): 20 мм/0.0005 мм шаг, 100 ммφ/0.0005 мм шаг, 150 ммφ/0.0005 мм шаг
		Поворотный столик Rx, Ry (опция): -5 до 5°/0.002° шаг
	Размер образца	Максимальный диаметр 200 мм, толщина 6 мм (для образцов толщиной 24 мм, опция)
Оптическая система	Падающий пучок	Многослойное зеркало (CBO), щелевой Ge-монохроматор с двукратным и четырехкратным брэгговским отражением, автоматически варьируемые DS
	Дифрагированный пучок	Варьируемые, дистанционно-управляемые SS и RS, щелевой Ge кристалл-анализатор с двукратным отражением
Детектор	Сцинтилляционный счетчик	Кристалл-сцинтиллятор NaI, фотоумножитель с предусилителем